I sistemi radiografici di metrologia e scienza dei materiali offrono soluzioni di misurazione utilizzate per rendere vari componenti (da microparti e macroparti fino a grandi motori e turbine eoliche) più solidi, più sicuri ed efficienti dal punto di vista energetico.

Cos’è la scienza dei materiali? È l’osservazione della struttura dei materiali in scala atomica e l’esecuzione di misurazioni strutturali dirette. Esistono metodi radiografici differenti di misurazione dei materiali, incluse metrologia, fluorescenza, diffrazione e cristallografia. La metrologia è il processo che prevede l’acquisizione di una serie di immagini della TAC di un componente per misurarlo, l’applicazione di numerosi test al componente (per esempio sollecitazione, ciclo termico e umidità) e l’acquisizione di un’altra serie di immagini della TAC e l’analisi delle modifiche. La diffrazione e la cristallografia con i raggi X vengono utilizzate per identificare le proprietà atomiche dei materiali. I raggi X vengono diffratti tramite le normali disposizioni tridimensionali degli atomi in cristalli e i modelli di diffrazione risultanti vengono registrati da un detettore o una piastra per la diagnostica per immagini. Dal modello di diffrazione è possibile diagnosticare che si tratta di un determinato materiale. I modelli di diffrazione vengono confrontati con quelli presenti in un database computerizzato per trovare una corrispondenza.  La XRF (fluorescenza a raggi X) è una tecnica analitica non distruttiva utilizzata per determinare la composizione elementare dei materiali. Gli analizzatori XRF determinano la chimica di un campione misurando i raggi X fluorescenti (o secondari) emessi dal campione stesso quando viene eccitato da una sorgente radiogena primaria. Viene utilizzata per testare lo spessore del calibro di metalli e rivestimenti. 

Dalla ricerca scientifica al controllo della qualità industriale (ad esempio: controlli della qualità delle parti fuse delle turbine nel settore aerospaziale) i nostri componenti radiografici migliorano la tecnologia di misurazione assicurando i massimi standard di qualità laddove sia essenziale un’alta precisione. Con le loro caratteristiche:

  • Contrasto e intervallo dinamico elevati
  • Dose ad alta saturazione
  • Contrasto e sensibilità elevati a basse dosi
  • Alta velocità e basso ritardo dei nostri detettori CMOS (semiconduttore metallo-ossido complementare)
  • Basso livello di rumore
  • Ampia gamma di energie e materiali bersaglio differenti
  • I tubi e i detettori a schermo piatto radiografici di Varex Imaging forniscono vantaggi significativi per molte applicazioni radiografiche scientifiche.

 

 

Soluzioni di diagnostica per immagini per le esigenze della scienza dei materiali

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